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BOWAN X-RAY鍍膜測量儀

簡單的設計與強大的分析

● 幾秒內快速無損分析

● 可同時分析高達25種元素

● 可同時量測五層鍍層且任意兩層甚至可以是合金

● 使用先進的FP基本參數法分析厚度與成份

● 易於安裝和操作 — 僅需透過一條USB線連接

● 前面板基本功能控制

● 佔地面積小

● 重量輕

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